• 2025

  4-1
  ESD的原理和測試

  靜電放電(ESD:ElectrostaticDischarge)，應該是造成所有電子元器件或集成電路系統(tǒng)造成過度電應力(EOS:ElectricalOverStress)破壞的主要元兇。因為靜電通常瞬間電壓非常高(幾千伏)，所以這種損傷是毀...

• 2025

  3-25
  暗室測試桌材質(zhì)對產(chǎn)品輻射騷擾檢測結(jié)果的影響分析

  暗室測量進行電子產(chǎn)品的輻射騷擾檢測，對于促進相關(guān)行業(yè)的進步和發(fā)展具有著明顯的促進作用。不同的測試桌對于測試結(jié)果的影響均不會相同，要想得到準確的測試結(jié)果，只能采取在統(tǒng)一的區(qū)間段進行對比，其結(jié)果與無測試桌的測試數(shù)據(jù)統(tǒng)一整理，這樣，就可以有效的得...

• 2025

  3-21
  對產(chǎn)品可靠性有更高的要求，請試試高頻噪聲模擬器！

  1966年IBM的ManoharL.Tandon發(fā)表了電子產(chǎn)品對高頻噪聲的抗擾度的系統(tǒng)評價。NOISEKEN從1975年創(chuàng)業(yè)開始，就通過產(chǎn)品操作說明書、噪聲技術(shù)報告、技術(shù)手冊等來解說高頻噪聲試驗的試驗方法。各企業(yè)、各部門以此試驗方法為基礎(chǔ)，...

• 2025

  3-20
  靜電放電（ESD）試驗方法-不接地設(shè)備

  不接地設(shè)備或設(shè)備的不接地部件不能如1類供電設(shè)備自行放電。若在下一個靜電放電脈沖施加前電荷未消除,受試設(shè)備或受試設(shè)備的部件上的電荷累積可能使電壓為預期試驗電壓的兩倍。因此，雙重絕緣設(shè)備的絕緣體電容經(jīng)過幾次靜電放電累積,可能充電至異常高，然后以...

• 2025

  3-17
  電快速脈沖群測試介紹

  電快速瞬變脈沖群（(EFT/B,ElectricalFastTransient/Burst)是在同一供電回路中，多種用電器（或設(shè)備）在工作過程中(如開關(guān)、繼電器等在使用時)產(chǎn)生的瞬態(tài)脈沖群。如果電感性負載多次重復切換，脈沖群就會以相應的時間...

• 2025

  3-7
  振鈴波、阻尼振蕩、阻尼振蕩磁場測試簡介

  振鈴波是一種由于電氣網(wǎng)絡和電抗負載的切換以及電源電路故障和絕緣擊穿或雷擊而感應到低電壓電纜中所產(chǎn)生的非重復性阻尼振蕩瞬變現(xiàn)象。阻尼振蕩波則是在高壓或中壓電源線、控制線和信號線上產(chǎn)生的重復性瞬變現(xiàn)象。阻尼振蕩波與磁場線圈配合便是阻尼振蕩磁場測...